Die GFaI auf dem Innovationstag Mittelstand des Bundesministeriums für Wirtschaft und Klimaschutz (BMWK) 2022

Dr. Daniel Herfert und Maik Gollnick am Stand der GFaI

Am 23. Juni 2022 war die AiF Projekt GmbH, nach pandemiebedingter Absage 2020 und einer Digitalversion des Innovationstages 2021, wieder Gastgeber der technologischen Leistungsschau als Präsenzveranstaltung. Auf dem Freigelände in Berlin-Pankow wurden von Unternehmen und Einrichtungen aus dem gesamten Bundesgebiet neue Produkte, Verfahren und Dienstleistungen gezeigt, deren Entwicklung mit Mitteln des Bundes gefördert wurde. Unter dem Claim „Wandel durch Innovationen“ wurden zahlreiche Förderinitiativen und -programme des BMWK und deren enge Verzahnung vorgestellt. Besonderer Fokus lag 2022 auf Themen wie ökologische Innovationen, Digitalisierung und Gesundheit. Die Veranstaltung wurde von Dr. Franziska Brantner, Parlamentarische Staatssekretärin im BMWK, eröffnet.

Die GFaI war mit dem Thema „Analyse des Anrissverhaltens mechanisch gefügter Verbindungen unter zyklischer Belastung“ (Forschungsbereich Strukturdynamik/Mustererkennung) sowie als Unteraussteller zum Thema „UAV-System zum Verbissschutz von Baum-Setzlingen mittels Verfahren der Bilderkennung und Logistikoptimierung“ (Forschungsbereich Bildverarbeitung/Industrielle Anwendungen) vertreten. Beim Thema „Anrissverhalten“ wurden Möglichkeiten zur frühzeitigen Erkennung von Schädigungen bei Proben unter zyklischer Belastung in Dauerschwingversuchen gezeigt. – Dazu werden Messdaten während der Prüfung analysiert und mittels künstlicher Intelligenz ausgewertet. Ergänzt wurde die Vorstellung des Themas durch die Präsentation von WaveHitMAX, dem ersten smarten automatischen Impulshammer. Einem Zubehör zur reproduzierbaren und hochpräzisen Single-Hit-Anregungen zur Modalanalyse und Klangprüfung.

Die Möglichkeiten zum direkten Gespräch und zum Networking wurden umfangreich genutzt. Teil des vielfältigen Bühnenprogramms waren thematische Speed-Pitch-Sessions. Auch die GFaI war mit dem Kurzvortrag „Zerstörungsfreie Erkennung von Defekten“ dabei.